Wikipédia:Lumière sur/Diffractométrie de rayons X
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La diffractométrie de rayons X est une méthode d'analyse structurale. Elle ne marche que sur la matière cristallisée (minéraux, métaux, céramiques, produits organiques cristallisés). Par contre, elle permet de reconnaître des produits ayant la même composition chimique, mais une forme de cristallisation différente.
Les rayons X provoquent un déplacement du nuage électronique par rapport au noyau; ces oscillations induites provoquent une réémission d'ondes électromagnétiques de même fréquence ; ce phénomène est appelé diffusion Rayleigh. La longueur d'onde des rayons X étant de l'ordre de grandeur des distances interatomiques, les interférences des rayons diffusés vont être alternativement constructives ou destructives. Ces variations forment le phénomène de diffraction X.
L'idée d'utiliser la diffraction des rayons X pour identifier une phase fût développée au début du XXe siècle par Albert Hull, Peter Debye et Paul Scherrer, mais la méthode porte le nom de Debye et Scherrer.
Une poudre formée d'une phase cristalline donnée va toujours donner lieu à des pics de diffraction dans les mêmes directions, avec des hauteurs relatives à peu près constantes. Ce diagramme de diffraction forme ainsi une véritable signature de la phase cristalline. Il est donc possible de déterminer la nature de chaque phase cristalline au sein d'un mélange (poudre ou échantillon massif polyphasique).
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